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网站标题: 芯片测试座_传感器老化座_编程烧录座_测试夹具_弹片微针模组_ddr/bga/hast/memory测试_深圳谷易电子
网站简介: 谷易电子面向hast、ddr、bga、memory、htol老化测试,提供老化测试座以及老化板服务、为芯片设计公司定制IC分析测试座、夹球测试座、封测厂提供final test的ATE测试座以及手动IC socket、应对板对板(BTB)连接器的弹片微针模组。
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